パナソニック製計測・測定システムの強み

世界最高水準の三次元測定機「UA3P」は多くの分野で適応が可能です。

  1. 超高精度な測定 (シングルナノ再現性を実現)
  2. 接触測定による絶対形状評価 (回転対称非球面・自由曲面)
  3. 複雑形状に対応する柔軟なNCパス
  4. 測定データから様々な解析を実現 (ex. Zerinike解析)
  5. 面間・外形偏心評価も可能 (ex. 非球面・自由曲面・ウェハレンズ)
  6. 複雑形状でも表面粗さ測定可能
  7. 設計式がなくても測定評価可能
  8. CADデータでの評価
  9. 自動測定による作業平準化・省人化
各種測定機の測定精度・適応分野

パナソニックの計測・測定システムの特長

座標測定技術

測定機の座標系は、ステージと独立した3枚の参照平面(ミラー)で構成され、周波数安定化He-Neレーザを光源としたレーザ干渉法によりXYZ各軸を分解能0.3 nmで測長します。これによりステージの直角度・真直度による影響を抑え、高精度測定を実現します。

  • 座標軸による測定誤差:0.05 μm以内(~100 mm)、0.3 μm以内(~500 mm)
座標測定技術

測定プローブ

超低測定力で測定物の高精度スキャニング測定が可能です。
スタイラスはマイクロエアスライダーで保持され、フォーカス用レーザによりスタイラスの動きを検出し、測定力が一定になるようにAFPの位置を測定物の形状に合わせて追従します。

  • 測定力:0.15~0.30 mN(15~30 mgf)※UA3P-3100/4000は0.05~0.30 mN、UA3P-5000Hは0.10~0.30 mN
  • スタイラス:先端角30度、r=2μmダイヤスタイラス使用可能
測定プローブ

コア・ソフトウェア技術

簡単な操作で高精度な測定を実現。あらゆる設計情報に対応でき、測定物の設置誤差を3次元的に補正して正確な形状測定が可能です。

簡単な操作で高精度な測定を実現

お問い合わせ

ご相談窓口
各種ご相談は、下記までお問い合わせください。